法國ATEQ帶你了解高壓放電法瓶蓋的檢漏測(cè)試

     ATEQ開發(fā)出了一種新的檢漏機(jī)，這款儀器主要用于檢測(cè)大批量生產(chǎn)的塑料件的質(zhì)量。通過采用IONIQ基于放電測(cè)

量的技術(shù)，可以檢測(cè)到產(chǎn)品局部成型斷層、膜層厚度不足、穿孔等缺陷，最小可達(dá)到um級(jí)別。

通過這款新的檢漏機(jī)，ATEQ希望能夠提高塑料零件的質(zhì)量控制測(cè)試生產(chǎn)線，以滿足客戶對(duì)大批量生產(chǎn)塑料件的具體要求。這種技術(shù)的出現(xiàn)，將有助于提高塑料零件的質(zhì)量和可靠性，降低生產(chǎn)成本，并為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。

總之，ATEQ的這款新的檢漏機(jī)對(duì)于提高大批量生產(chǎn)塑料件的質(zhì)量控制具有重要的意義。

測(cè)量原理：

這種測(cè)量方法基于電場(chǎng)感應(yīng)的原理。帶電探針和接地板之間產(chǎn)生電場(chǎng)，待測(cè)試部件置于該電場(chǎng)中。當(dāng)待測(cè)試部件有電

流通過時(shí)，會(huì)改變?cè)摬考車碾妶?chǎng)分布，從而改變通過帶電探針和接地板的電流。通過測(cè)量電流的變化，可以確定

待測(cè)試部件的電性能參數(shù)，如電阻、電容、電感等。

具體來說，當(dāng)待測(cè)試部件沒有電流通過時(shí)，帶電探針和接地板之間的電流為I0。當(dāng)待測(cè)試部件有電流通過時(shí)，由于電

場(chǎng)分布的變化，通過帶電探針和接地板的電流變?yōu)镮1，I1與I0的比值可以通過計(jì)算得到待測(cè)試部件的電性能參數(shù)。

該方法具有操作簡便、精度高等優(yōu)點(diǎn)，適用于多種不同材料的電性能測(cè)試，是一種非常實(shí)用的測(cè)量方法。

這種測(cè)試方法要求在待測(cè)試部件上施加一定電壓，并測(cè)量由此產(chǎn)生的放電電流的百分比作為判斷標(biāo)準(zhǔn)。通過比較實(shí)際

測(cè)量的電壓和要求電壓，可以確定產(chǎn)品是否通過測(cè)試。

在通過測(cè)試的情況下，沒有孔，沒有薄弱點(diǎn)，IONIQ測(cè)量出高電壓百分比，說明實(shí)際測(cè)量的電壓與要求電壓相等，產(chǎn)

品符合要求。

而在未通過測(cè)試的情況下，IONIQ測(cè)量出低電壓百分比，說明測(cè)量電壓明顯低于要求電壓，產(chǎn)品不符合要求。

需要注意的是，這種測(cè)試方法有一定的限制。在探頭與板距離較近的情況下，可能會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。此外，這種

方法也需要在電氣絕緣的環(huán)境中使用，以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。

     總之，這種方法能夠有效地檢測(cè)塑料件的質(zhì)量狀況。通過IONIQ基于放電測(cè)量的原理來測(cè)量放電電流百分比。這種技

術(shù)已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用，并取得了良好的效果。

該系統(tǒng)適合對(duì)塑料或絕緣膜上的注射點(diǎn)缺陷的瓶蓋進(jìn)行高速測(cè)試